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所属单位：电子信息工程学院/集成电路学院

发表刊物：测控技术

关键字：单粒子效应;超大规模集成电路(VLSI);硬件描述语言;门级;三模冗余

摘要：由于空间辐射环境充满了各类射线和高能粒子,非常容易诱发集成电路发生单粒子效应,因此有必要开发对应的评估技术,分析单粒子效应对超大规模集成电路(VLSI)的影响。以ISCAS89测试基准电路为主要研究对象,提出了一种适用于VLSI的单粒子效应评估技术,可以通过脚本自动生成仿真和测试文件,实现任意节点的故障注入,并可以在任何一种支持硬件描述语言的EDA仿真工具上进行评估。分别对使用三模冗余技术、自刷新寄存器技术加固后的电路和原始电路进行了对比评估。评估结果符合逻辑,验证了门级单粒子效应评估测试技术的有效性。通过提出的评估技术,可以快速评估电路的抗辐射能力,提高查找设计缺陷、对电路进行针对性加固的效率,对于提高集成电路的安全性和稳定性有着重要的应用价值。

备注：期:2020年01期

ISSN号：1000-8829

是否译文：否

发表时间：2020-01-18