个人简介

        王佑博士，现任南京航空航天大学电子信息工程学院/集成电路学院副研究员。2011年获华中科技大学光电信息工程专业学士学位，2017年获法国国立高等电信学校（Telecom Paristech）电子与通信专业博士学位。长期从事集成电路设计研究，主要研究方向为基于新型低功耗器件的EDA技术、硬件安全电路设计以及芯片抗辐射加固设计。提出首个MTJ可靠性分析模型，获20多个国家的60余科研机构的下载使用和跟踪引用。在IEEE TED, MRJ, IEEE TCAS I, TCAS II，TMAG，GLSVLSI，Nanoarch，ESREF和ISCAS等器件可靠性以及电路设计领域权威期刊和会议上发表论文40余篇，申请国家发明专利10余项,参与撰写专著两部，教材两部。获2023年度中国辐射防护学会科学技术奖(科技进步奖）一等奖，国际物理可靠性会议ESREF2014 最佳论文奖。主持江苏省青年基金等科研项目5项，产学研项目2项，参与核高基重大专项、重点研发等3项，入选江苏省2023年双创博士。长期担任IEEE TED, IEEE TNANO, IEEE TCAS, IEEE TCAD等多部国际期刊审稿人。获第九届江苏省“互联网+”大学生创新创业大赛优秀指导教师。