个人简介

        王佑博士，现任南京航空航天大学集成电路学院副研究员，入选江苏省2023年“双创博士”，南京航空航天大学“长空之星”。2011年获华中科技大学光电信息工程专业学士学位，2017年获巴黎理工学院电子与通信专业博士学位。长期从事集成电路设计研究，主要研究方向为基于新型低功耗器件的EDA技术、硬件安全电路设计以及芯片抗辐射加固设计。提出首个MTJ可靠性分析模型，获20多个国家的60余科研机构的下载使用和跟踪引用。在器件可靠性以及电路设计领域权威期刊和会议上发表论文50余篇，申请国家发明专利10余项,参与撰写专著两部，教材两部。获2023年度中国辐射防护学会科学技术奖(科技进步奖）一等奖，国际物理可靠性会议ESREF2014 最佳论文奖。主持江苏省青年基金等科研项目10项，入选江苏省2023年双创博士。长期担任IEEE TED, IEEE TNANO, IEEE TCAS, IEEE TCAD等多部国际期刊审稿人。获第九届江苏省“互联网+”大学生创新创业大赛优秀指导教师，指导学生获“互联网+”大学生创新创业竞赛国赛铜奖、全国大学生嵌入式芯片与系统设计竞赛三等奖；指导博士生获批“江苏省研究生科研创新计划”，指导本科生获批创新训练国家级项目。