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专利说明：本发明公开了一种基于贴片天线的平面近场屏蔽检测装置及其检测方法，检测装置包括贴片天线，贴片天线上方设置金属屏蔽架，贴片天线的一端与矢量网络分析仪相连，另一端与负载阻抗相连；矢量网络分析仪还与波导探头相连，波导探头设置在贴片天线的近场区域内；金属屏蔽架上可以放置屏蔽贴片天线在垂直方向上辐射波的屏蔽薄膜。本发明能准确快速完成屏蔽薄膜材料的近场屏蔽测试，利用简单的设备装置测试不同频率波段的屏蔽效能，以贴片天线为辐射源更加贴近芯片中高速传输信号时产生的辐射波情况，依靠简单的框架分析近场不同高度下的屏蔽效能，提升测

专利类型：发明

申请号：2025100920651

发明人数：4

是否职务专利：否

申请日期：2025-01-21

公开日期：2025-04-04

申请专利人：朱兴忠

发明设计人：朱兴忠,张钰皓,徐娟,阚彩侠