陈鑫
开通时间:..
最后更新时间:..
点击次数:
发表刊物:IEEE Subthreshold Microelectronics Conference
页面范围:1-3
是否译文:否
发表时间:2012-01-01
合写作者:Xia H , Wu N
上一条:Novel core test wrapper design supporting multi-mode testing of NoC-based SoC
下一条:增益恒定的数控振荡器设计