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同专业硕导
  • 吴比 ( 副研究员 ) 赞

    的个人主页 http://faculty.nuaa.edu.cn/wubi/zh_CN/index.htm

  •   副研究员   硕士生导师
  • 招生学科专业：
    电子信息 -- 【招收硕士研究生】 -- 集成电路学院
    集成电路科学与工程 -- 【招收硕士研究生】 -- 集成电路学院
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Temperature Impact Analysis and Access Reliability Enhancement for 1T1MTJ STT-RAM

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发表刊物：IEEE Transactions on Reliability
论文类型：期刊论文
文献类型：J
卷号：65
期号：4
页面范围：1755 - 1768
ISSN号：1558-1721
是否译文：否
发表时间：2016-10-06
收录刊物：SSCI、SCIE

 

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