南京航空航天大学主页平台管理系统 wangyou--Home-- A process-variation-resilient methodology of circuit design by using asymmetrical forward body bias in 28nm FDSOI

王佑Associate Professor

个人简介王佑博士，现任南京航空航天大学集成电路学院副研究员，入选江苏省2023年“双创博士”，南京航空航天大学“长空之星”。2011年获华中科技大学光电信息工程专业学士学位，2017年获巴黎理工学院电子与通信专业博士学位。长期从事集成电路设计研究，主要研究方向为新型非易失存储技术、高可靠高安全存储芯片、面向AI加速的存算芯片。发表论文50余篇，授权国家发明专利10余项,参与撰写专著两部，教材两部。获2023年度中国辐...Detials

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A process-variation-resilient methodology of circuit design by using asymmetrical forward body bias in 28nm FDSOI

Release time:2022-07-28 Hits:

Journal:Microelectronics Reliability
Indexed by:Journal paper
Document Type:J
Volume:64
Page Number:26-30
Translation or Not:no
Date of Publication:2016-09-15

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