南京航空航天大学主页平台管理系统 wangyou--Home-- A process-variation-resilient methodology of circuit design by using asymmetrical forward body bias in 28nm FDSOI

王佑Associate Professor

个人简介王佑博士，现任南京航空航天大学电子信息工程学院/集成电路学院副研究员。2011年获华中科技大学光电信息工程专业学士学位，2017年获法国国立高等电信学校（Telecom Paristech）电子与通信专业博士学位。长期从事集成电路设计研究，主要研究方向为基于新型低功耗器件的EDA技术、硬件安全电路设计以及芯片抗辐射加固设计。提出首个MTJ可靠性分析模型，获20多个国家的60余科研机构的下载使用和跟踪引用。在IEEE TE...Detials

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A process-variation-resilient methodology of circuit design by using asymmetrical forward body bias in 28nm FDSOI

Release time:2022-07-28 Hits:

Journal:Microelectronics Reliability
Indexed by:Journal paper
Document Type:J
Volume:64
Page Number:26-30
Translation or Not:no
Date of Publication:2016-09-15

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