Reliability analysis and performance evaluation of STT-MRAM based physical unclonable function
- Journal:SPIN
- Indexed by:Journal paper
- Document Type:J
- Volume:10
- Issue:2
- Translation or Not:no
- Included Journals:SCIE
- Date of Publication:2020-06-20
王佑Associate Professor
个人简介 王佑博士，现任南京航空航天大学电子信息工程学院/集成电路学院副研究员。2011年获华中科技大学光电信息工程专业学士学位，2017年获法国国立高等电信学校（Telecom Paristech）电子与通信专业博士学位。长期从事集成电路设计研究，主要研究方向为基于新型低功耗器件的EDA技术、硬件安全电路设计以及芯片抗辐射加固设计。提出首个MTJ可靠性分析模型，获20多个国家的60余科研机构的下载使用和跟踪引用。在IEEE TE...Detials