Haihong Qin

Doctoral Degree in Engineering

博士毕业

南京航空航天大学

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SiC MOSFET短路特性

Date of Publication:2018-06-15 Hits:

Affiliation of Author(s):自动化学院
Journal:南京航空航天大学学报
Key Words:碳化硅;MOSFET;短路特性;短路保护;
Abstract:为确保碳化硅(SiC)功率器件在过载、短路等工况下能安全可靠地工作,必须充分认识SiC器件的短路机理。首先对SiC MOSFET硬开关短路故障下短路电流原理进行了分析,在此基础上对不同电路参数对SiC MOSFET短路特性的影响进行了对比分析,揭示了短路特性的关键影响因素,并对Si与SiC MOSFET短路能力和器件恶化机理进行了对比分析,从而为设计SiC MOSFET短路保护电路提供一定的指导。
Translation or Not:no
Date of Publication:2018-06-15
Co-author:徐克峰,F70206220,董耀文,赵朝会
Correspondence Author:Haihong Qin