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  • 赵永久 ( 教授 )

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  •   教授
  • 招生学科专业:
    电子科学与技术 -- 【招收硕士研究生】 -- 电子信息工程学院
    信息与通信工程 -- 【招收博士、硕士研究生】 -- 电子信息工程学院
    探测与成像 -- 【招收硕士研究生】 -- 电子信息工程学院
    电子信息 -- 【招收博士、硕士研究生】 -- 电子信息工程学院
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非理想校准件对S参数测量结果的影响

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所属单位:电子信息工程学院
发表刊物:微波学报
关键字:四端口矢量网络分析仪;散射参数;不确定度;TRL校准;
摘要:TRL校准方法是矢量网络分析仪(Vector Network Analyzer,VNA)校准的常用方法之一,它通过对直通件、反射件和传输线3个标准件的测量,经过一系列计算获取各误差项的值。但是在实际测量中,这些校准件并不能在整个频带范围内具有理想的特性,从而在实际测量时会引起被测件S参数的测量不确定度。对于使用日益广泛的多端口VNA而言,测量不确定度的分析比二端口VNA更为复杂,目前对其开展的研究还不够广泛深入。文章以四端口VNA为例,对TRL校准过程中由非理想标准件引起的被测件的S参数测量不确定度进行研究。首先,运用广义节点的思想将四端口VNA的S参数测量不确定度用矩阵形式表示,再运用广义TRL校准方法,求得各误差项及其偏移的值,最终求得灵敏度系数的解析式,它可以对四端口VNA进行S参数测量不确定度的B类评估。
是否译文:否
发表时间:2017-03-05
合写作者:金雨旻,王敏,周永刚
通讯作者:赵永久

 

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