赵永久
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非理想校准件对S参数测量结果的影响
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Affiliation of Author(s):电子信息工程学院

Journal:微波学报

Key Words:四端口矢量网络分析仪;散射参数;不确定度;TRL校准;

Abstract:TRL校准方法是矢量网络分析仪(Vector Network Analyzer,VNA)校准的常用方法之一,它通过对直通件、反射件和传输线3个标准件的测量,经过一系列计算获取各误差项的值。但是在实际测量中,这些校准件并不能在整个频带范围内具有理想的特性,从而在实际测量时会引起被测件S参数的测量不确定度。对于使用日益广泛的多端口VNA而言,测量不确定度的分析比二端口VNA更为复杂,目前对其开展的研究还不够广泛深入。文章以四端口VNA为例,对TRL校准过程中由非理想标准件引起的被测件的S参数测量不确定度进行研究。首先,运用广义节点的思想将四端口VNA的S参数测量不确定度用矩阵形式表示,再运用广义TRL校准方法,求得各误差项及其偏移的值,最终求得灵敏度系数的解析式,它可以对四端口VNA进行S参数测量不确定度的B类评估。

Translation or Not:no

Date of Publication:2017-03-05

Co-author:金雨旻,Min Wang,zyg

Correspondence Author:zyj

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Professor

Education Level:西安电子科技大学

Degree:Doctoral Degree in Engineering

School/Department:College of Electronic and Information Engineering

Discipline:Communications and Information Systems. Electromagnetic Fields and Microwave Technology

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