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所属单位：电子信息工程学院

发表刊物：微电子学与计算机

关键字：全数字延时锁定环;时钟同步;三维集成电路;

摘要：本文提出了一种适用于三维集成电路芯片间时钟同步的全数字延时锁定环设计.在给定的三维集成电路中,该全数字延时锁定环采用可变逐次逼近寄存器控制器设计来缩短锁定时间,以消除谐波锁定问题并拓宽工作频率范围,实现硅过孔引起的延时偏差可容忍和垂直堆叠芯片间时钟信号同步.整个设计采用TSMC 65nm CMOS低功耗工艺实现.仿真结果显示在工艺角最坏情况下最高工作频率是833MHz(SS,125℃,1.08V),在工艺角最好情况下最低工作频率是167MHz(FF,-40℃,1.32V),整个工作频率范围内最长锁定时间固定为103个输入时钟周期,在典型工艺角下功耗为0.8mW@833 MHz(TT,25℃,1.2V).版图有效核心面积为0.018mm2.

是否译文：否

发表时间：2018-09-05

合写作者：叶云飞,葛芬,周芳

通讯作者：吴宁