一种针对X射线平板探测器进行性能测试的装置
Date:2025-10-09 clicks:
Application Number:CN201210076870.8
Service Invention or Not:no
Application Date:2012-03-21
Publication Date:2012-08-08
Patent Applicant:中国科学院高能物理研究所
Disigner of the Invention:qinxiubo, 赵博震,zhumeiling, 袁路路, 赵维, 舒航, 曹大泉, 孙翠丽, 魏存峰, 魏龙