Affiliation of Author(s):电子信息工程学院

Journal:光电子技术

Key Words:光矢量分析;光单边带调制;微波光子学;频谱响应测量;超高分辨率;

Abstract:新一代光信息系统(光通信、光传感、光处理等)迫切要求光子器件能够对光信号进行多维度(幅度、相位、偏振等)和高精细操控,对这些光子器件的多维光谱响应进行精确测量已成为相关领域创新和取得突破的前提。然而,目前国内外尚无光矢量分析仪表能测量具有飞米级别频谱操控精度光器件的频谱响应。一种实现超高分辨率光矢量分析的有效途径是:采用微波光子技术将粗粒度的光域波长扫描转换成超高分辨率的微波频率扫描,辅以高精度电幅相检测,进而实现光器件多维光谱响应的超高分辨率测量。然而,该光矢量分析技术仍面临测量范围较窄、动态范围较小和测量误差较大这三个关键挑战。深入分析了这三个关键挑战,并讨论相关的测量范围拓展技术、动态范围增强技术和测量误差消除技术。此外,探讨了该技术的未来发展趋势。

Translation or Not:no

Date of Publication:2017-09-30

Co-author:F70206491,卿婷,李树鹏

Correspondence Author:Shilong PAN